




本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精密度的光譜儀、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、 積分球、及人性化的電腦操作軟件,提供全光譜、 色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制,達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計,光強分布箱,及電腦控制為主要元件,搭配獨家開發之控制軟體,在簡易的操作介面之下,提高測試準確度。並可達到自行校正波長及照度校正。 選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。
此套系統使用的是掃瞄(scanning)式的光譜儀,解析度高,量測穩定,是實驗室等級的光譜儀。提供穩定的A光源。可自行生產標準件供後續的LED量測做標準。為了滿足使用者多樣的需求,提供了不同的測試項目,包括了 IV,( x, y), λD, λP, Tc, CRI, FWHM, Ip, VF, IR, IF, △VF 與 THY 。它也能測量不同形式的 LED,例如 LED Chip, SMD, Lamp, Module, LED Display 。
| 量測項目及規格 | |
| Reverse current(逆向電流) (Ir) | 0-1,00μA, programmable 0 to –50V |
| Forward bias voltage(順向電流) (Vf) Forward current (IF) |
0-20V programmable 0.1-1000mA |
| Peak wavelength(尖峰波長)(λp) | 350-1050nm |
| Luminance intensity(光強度) | 0-50,000mcd |
| Radiance intensity(輻射強度) | 0-5000mW/sr |
| Color temperature(色溫) | 1000-20,000K |
| Dominated wavelength(主波長)(λd) | 400-700nm |
| Chromaticity coordiantes(色度座標) | CIE (x,y) |
| Correlated Color temperature (相對色溫) |
CCT, 1,000-100,000K |
| Purity(純度) | 100% |
| FWHM(半寬波長) | 0-200nm |
| Center wavelength(中心波長) | 350-1050nm |
| Centroid wavelength(重心波長) | 350-1050nm |
| CRI(演色指數) | 0-100% |
應用範圍
LED晶片廠研發部及品管部, LED 封裝廠研發部及品管部
系統特色
• 全自動化量測設計,操作介面簡單
• 使用者可自行與標準樣品做校正,無須負擔龐大的校正費用
• 軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改
• 可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率
• 採用CIE1931,CIE1976 U.C.S標準及演算方法
| 型號 | 規格/型號 |
| 光譜儀 | ARC SP-150, 400nm-1100nm,解析度0.1nm |
| Picoanmeter 電流計 | Keithley#6485 |
| OPTIMUM 積分球 | ISP-050, 50mm積分球 |
| 電源供應器 | Keithley#2400 |
OPTIMUM System |
Windows系統自動控制操作程式 software driver, desktop pc & LCD monitor console 軟體規格為 Visual Basic 6.0開發,相容 Windows 98以上版本 |
| Optical Components | 偵測器, 三色光源, 光源箱, 光纖, 及其他光學配件 |
以上為白光測試結果